NOVEDADES: Caracterización de Materiales

 Descubra una nueva técnica ultra-rápida de análisis elemental de perfiles en profundidad.

 

PP-TOFMSLOGO HORIBA
Los equipos Plasma Profiling TOFMS (PP-TOFMS) de Horiba Scientific proporcionan en pocos minutos la composición química en función de la profundidad de cualquier material, conductor o no. El perfil se consigue mediante una fuente pulsada de plasma que erosiona e ioniza la superficie del material acoplada a un espectrómetro de masas de tiempo de vuelo.

 

Sepa más sobre esta técnica que le permitirá ahorrar tiempo en la optimización de su proceso de depósito de capas visualizando este vídeo .


Nueva generación de equipos DLS NanotracWave II de Microtrac.

 

                 LOGO MICROTRAC            DLS NanotracWave II
 

Incorpora la tecnología DLS con "reference beating", acorde con la nueva normativa ISO, para alcanzar la máxima precisión en el rango de medida de tamaño de partículas sub-nanométrico hasta varias micras. Tanto si su muestra está muy diluida (ppm) como en producto final muy concentrado, el NanotracWave II determina el tamaño de distribuciones simples o bi-modales. También se ha mejorado la medida del potencial Z cerca del punto isoeléctrico eliminando los errores debidos al flujo electro-osmótico.

 

Espectrómetro XPS modelo K-Alpha+ de Thermo Scientific

 TFS       XPS modelo K-Alpha+

 
El lanzamiento en el año 2006 del espectrómetro XPS K-Alpha supuso un importante avance en el análisis de superficie, simplificando y haciendo más intuitiva dicha técnica sin comprometer la calidad de los resultados.
El K-Alpha + va un paso más allá proporcionando mayor sensibilidad en la detección de elementos y mejor resolución para una identificación química más precisa. Incorpora una fuente dual de iones monoatómicos o en cluster para materiales delicados, cámara de transferencia bajo vacío y módulo de análisis angular.

 

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