Descripción

La nueva serie NEX QC II está diseñada para un uso industrial diario y fiable, y utiliza la tecnología de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) para realizar análisis elementales rápidos y no destructivos. Su diseño compacto y autónomo incluyendo un ordenador integrado y una impresora. Elimina la necesidad de utilizar ordenadores personales o periféricos en la planta de producción. La interfaz de pantalla táctil, clara y basada en iconos, guía a los usuarios desde la configuración hasta los resultados, minimizando el tiempo de formación y reduciendo los errores del operador.

Sin necesidad de conocimientos técnicos previos, sin consumibles costosos, con una preparación mínima de las muestras y bajos costes operativos, la serie NEX QC II ofrece un rendimiento fiable en el control de calidad por EDXRF que favorece el tiempo de actividad, la eficiencia y el control de costes.

Ventajas y características principales:

- Análisis elemental no destructivo desde el sodio (Na) hasta el uranio (U).
- Mide sólidos, líquidos, polvos, recubrimientos y películas finas.
- Interfaz de pantalla táctil rediseñada para simplificar la formación y el manejo.
- Diseño compacto y resistente para entornos industriales exigentes.
- Detector tipo SDD con ventana de grafeno y configuración de detector mejorada en el NEX QC II+.
- Protección reforzada de la ventana del detector para un uso industrial continuo.
- Menor espacio ocupado gracias a la impresora integrada; no se necesita ordenador externo.
- Bajo coste de operación respaldado por una garantía de 2 años.