HR AFM - Microscopio de Fuerza Atómica de Alta Resolución para investigación

Información del Producto

Ref:AFW-HR-AFM
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Descripción

El HR AFM del fabricante de microscopios AFMWorkshop es un modelo avanzado con una excelente relación calidad-precio, diseñado para investigadores que necesiten capacidades de escaneo de alta resolución. Con un ruido en Z de 35 picómetros (35 pm), el HR AFM es capaz de medir muestras con características superficiales en el rango nano o sub nanométrico, y también en el micrométrico, con alta resolución.

El microscopio de fuerza atómica HR AFM incluye todo lo necesario para comenzar a escanear: plataforma AFM, electrónica, microscopios ópticos, ordenador con dos monitores, software, puntas, herramienta para cambio de punta y muestra de referencia. Para una mayor variedad de aplicaciones, es fácil añadir accesorios y modos de medida opcionales en el momento de la compra o en cualquier momento en el futuro (MFM, EFM, SKFM, C-AFM, Fuerzas Avanzadas, etc.).

Su exclusivo soporte universal permite la libertad de comprar puntas de la más amplia variedad de proveedores para no limitar su presupuesto a compras costosas a proveedores propietarios.

Especificaciones:
Tamaño de las muestras: 25 x 25 x 13 cm.
Escáneres disponibles: (100 x 100 x 17) micras; (50 x 50 x 17) micras; (17 x 17 x 7) micras.
Ruido en Z: < 35 pm* (según escáner y condiciones ambientales).
Dos microscopios ópticos con vídeo:
1) Vista superior: 400 X Grado de investigación, y 2) Vista lateral: 200 X Tipo cámara de móvil.
Modos de trabajo estándar: contacto intermitente (tapping), contacto, fase, fuerza lateral, y fuerza/distancia.
Software: potente y completo paquete AFMControl diseñado en entorno gráfico LabVIEW. Facilita la incorporación de características especiales adicionales, así como la combinación del HR AFM con otro equipo controlado también con LabVIEW.
Formato imágenes: compatibles con múltiples softwares de tratamiento de imágenes como, por ejemplo, Gwyddion.

Opciones:
-Escáneres adicionales: es posible adquirir varios escáneres, fácilmente intercambiables por el usuario, para poder barrer diferentes áreas.
-Modos de trabajo opcionales: MFM, EFM, Fuerzas Avanzadas, C-AFM, SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscope), medidas en líquido (celda abierta y celda cerrada), ThFM, STM o Litografía.
-Soluciones anti vibraciones: desde mesas hasta cabinas para amortiguar las vibraciones externas.
-Image Logger: permite visualizar las imágenes de ida y vuelta ("trace and retrace") de 6 canales simultáneamente, así como las curvas en osciloscopio y los espectros.
-Direct Drive: en la opción de accionamiento directo, el HR AFM cuenta con 4 motores que facilitan el movimiento de aproximación punta-muestra. Los motores 1, 2 y 3 se accionan simultáneamente para desplazar la punta hacia arriba o hacia abajo, mientras que el motor 4 controla el enfoque óptico del microscopio de vista superior, permitiendo así seguir la punta durante todo su recorrido hasta la muestra.

Aplicaciones:
-Nanoestructuras (p.e. nanotubos de carbono).
-Biomoléculas (DNA).
-Materiales 2-D.
-Medidas de nano-rugosidad.
-Nanopartículas.

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