NP AFM - Microscopio de Fuerza Atómica para Control de Procesos
Información del Producto
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Ref: | AFW-NP-AFM-4022 |
Industrias: | |
Descripción
El NP AFM del fabricante de microscopios AFMWorkshop es un nano perfilador diseñado para desarrollo y control de procesos, con el que poder analizar fácilmente características como la rugosidad de la superficie y la metrología de muestras técnicas.
El NP-AFM es un microscopio de fuerza atómica de excelente relación calidad-precio, que incluye todo lo necesario para comenzar a escanear muestras: plataforma AFM, escáner XYZ linealizado, electrónica, microscopio óptico con video, ordenador con software de control, puntas, herramientas para cambio de punta y muestra de referencia. Para una mayor versatilidad, el NP-AFM es compatible con tres plataformas de muestras diferentes que permiten medir desde muestras grandes de 200 x 200 x 20 mm hasta obleas.
Para una mayor variedad de aplicaciones, es fácil añadir accesorios y modos de medida opcionales en el momento de la compra o en cualquier momento en el futuro (MFM, EFM, SKFM, C-AFM, Fuerzas Avanzadas, etc.).
Su exclusivo soporte universal permite la libertad de comprar puntas de la más amplia variedad de proveedores para no limitar su presupuesto a compras costosas a proveedores propietarios.
Especificaciones:
- Tamaño de las muestras: hasta 200 x 200 x 20 mm y obleas de 8" de diámetro.
- Escáneres disponibles: (40 x 40 x 16) micras; (40 x 40 x 7) micras.
- Ruido en Z: < 150 pm (según escáner y condiciones ambientales).
- Microscopio óptico con vídeo: 3 MP Camera, hasta 400X y resolución de 2 micras.
- Modos de trabajo estándar: contacto intermitente (tapping), contacto, fase, fuerza lateral, y fuerza/distancia.
- Software: potente y completo paquete AFMControl diseñado en entorno gráfico LabVIEW. - Facilita la incorporación de características especiales adicionales, así como la combinación del SA-AFM con otros equipos controlados también con LabVIEW.
- Formato imágenes: compatibles con múltiples softwares de tratamiento de imágenes como, por ejemplo, Gwyddion.
Opciones:
- Modos de trabajo opcionales: MFM, EFM, Fuerzas Avanzadas, C-AFM, SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscope), medidas en líquidos, STM o Litografía.
- Soluciones anti vibraciones: desde mesas hasta cabinas para amortiguar las vibraciones externas.
Aplicaciones:
- Desarrollo de procesos.
- Control de procesos.
- Análisis de muestras técnicas.