Descripción

El SA-AFM del fabricante de microscopios AFMWorkshop es un modelo abierto para maximizar su flexibilidad a la hora de medir muestras menos habituales, permitiendo escanear muestras de todos los tamaños y formas. Con un ruido en Z inferior a los 150 pm (según escáner y condiciones ambientales), este AFM de excelente relación calidad-precio proporciona medidas de las características nanométricas de la superficie de la muestra con una buena resolución.

El SA-AFM es un microscopio de fuerza atómica incluye todo lo necesario para comenzar a escanear: plataforma AFM con motor de aproximación Z de accionamiento directo, escáner XYZ linealizado, electrónica, microscopio óptico de alta resolución, ordenador, software, puntas, herramienta para cambio de punta y muestra de referencia. Para una mayor variedad de aplicaciones, es fácil añadir accesorios y modos de medida opcionales en el momento de la compra o en cualquier momento en el futuro (MFM, EFM, SKFM, C-AFM, Fuerzas Avanzadas, etc.).

Su exclusivo soporte universal permite la libertad de comprar puntas de la más amplia variedad de proveedores para no limitar su presupuesto a compras costosas a proveedores propietarios.

Especificaciones:
- Tamaño de las muestras: cualquier tamaño de muestra.
- Escáneres disponibles: (40 x 40 x 16) micras; (40 x 40 x 7) micras.
- Ruido en Z: < 150 pm (según escáner y condiciones ambientales).
- Microscopio óptico con vídeo: 3 MP Camera, hasta 400X y resolución de 2 micras.
- Modos de trabajo estándar: contacto intermitente (tapping), contacto, fase, fuerza lateral, y fuerza/distancia.
- Software: potente y completo paquete AFMControl diseñado en entorno gráfico LabVIEW. Facilita la incorporación de características especiales adicionales, así como la combinación del SA-AFM con otros equipos controlados también con LabVIEW.
- Formato imágenes: compatibles con múltiples softwares de tratamiento de imágenes como, por ejemplo, Gwyddion.

Opciones:
- Modos de trabajo opcionales: MFM, EFM, Fuerzas Avanzadas, C-AFM, SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscope), medidas en líquidos, STM o Litografía.
- Soluciones anti vibraciones: desde mesas hasta cabinas para amortiguar las vibraciones externas.

Aplicaciones:
- Muestras de gran tamaño.
- Escaneos de rutina de muestras tecnológicas.
- Materiales de construcción.
- Nanotecnología.
- Ciencias de la vida.