La visualización y metrología de características superficiales a nivel nanométrico son clave para avanzar en múltiples campos científicos e industriales. Dos herramientas destacan en esta misión: el microscopio electrónico de barrido (SEM) y el microscopio de fuerza atómica (AFM).

Ambos son pilares en la investigación a nanoescala, pero operan bajo principios físicos distintos que les otorgan capacidades únicas y complementarias. Por eso, la elección entre uno u otro depende de comprender sus ventajas y limitaciones según la aplicación.

Entre las principales diferencias destacan:

1. Profundidad de campo vs. contraste de superficie.
2. Dimensionalidad y metrología cuantitativa.
3. Entorno operativo y preparación de muestras.
4. Propiedades químicas vs. propiedades físicas.
5. Rendimiento, facilidad de uso y coste.

En definitiva, SEM y AFM no compiten: se complementan.

Su combinación ofrece una visión más completa y precisa del mundo a nanoescala.

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