Descubra una nueva técnica ultra-rápida de análisis elemental de perfiles en profundidad.

Sepa más sobre esta técnica que le permitirá ahorrar tiempo en la optimización de su proceso de depósito de capas visualizando este vídeo .

Nueva generación de equipos DLS NanotracWave II de Microtrac.

                             

Incorpora la tecnología DLS con "reference beating", acorde con la nueva normativa ISO, para alcanzar la máxima precisión en el rango de medida de tamaño de partículas sub-nanométrico hasta varias micras. Tanto si su muestra está muy diluida (ppm) como en producto final muy concentrado, el NanotracWave II determina el tamaño de distribuciones simples o bi-modales. También se ha mejorado la medida del potencial Z cerca del punto isoeléctrico eliminando los errores debidos al flujo electro-osmótico.

Espectrómetro XPS modelo K-Alpha+ de Thermo Scientific