Descripción

Es el equipo definitivo para llevar a cabo experimentos de difracción en polvo. Este sistema, versátil y de alta potencia, permite intercambiar fácilmente elementos ópticos, porta muestras, cámaras ambientales, así como detectores y óptica de rayos X. A media que las necesidades de medida cambian, es posible transformar el LPD estándar en una unidad completamente personalizada, garantizando que el sistema está siempre configurado de manera óptima para las necesidades del usuario. Con una precisión angular inferior a ± 0.01°Δ 2Ø para todo el rango angular, el AXRD LPD puede emplearse para medidas de difracción complejas, siendo ideal para medir monocristales, películas delgadas, muestras en polvo o en formato de pieza.

Gracias a las diversas opciones de su software, es posible llevar a cabo identificación y cuantificación de fases, determinación del porcentaje de cristalinidad, estimación del tamaño y tensión de los cristales, realización del ajuste Rietveld, caracterización de capas, análisis estructural y medidas de difracción dentro del plano.

Características principales:
- Goniómetro de 200-300 mm de radio.
- Potencia de tubo de 3000 W.
- Tubo estándar de ánodo de Cu. Ánodos opcionales: Co, Cr, Mo y Mn.
- Geometría para medidas theta-theta en vertical.
-  Tres detectores posibles: detector de recuento de fotones de alta velocidad (MYTHEN2 R), detector puntual de silicio (SPD) o detector 2D de gran área con discriminación en energía (EIGER2 R).
- Cámaras no ambientales: temperatura, presión y vacío.
-  Soporte rotatorio.
-  Intercambiador de muestras.
-  Sistema compacto (1435 x 915 x 1950 mm).