HR-2D - Microscopio de Fuerza Atómica Compacto de Alta Resolución

Información del Producto

Ref:AFW-HR-2D
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Descripción

El HR-2D AFM del fabricante de microscopios AFMWorkshop es un modelo avanzado y compacto, con una excelente relación calidad-precio, diseñado para investigadores que necesiten un equipo pequeño con capacidades de escaneo de alta resolución. Su reducido tamaño y bajo ruido (< 35 pm) lo convierten en un equipo ideal para emplear dentro de cajas de guantes en el estudio o control de calidad de materiales 2D, de baja dimensionalidad y/o sensibles al aire.

El microscopio de fuerza atómica HR-2D AFM incluye todo lo necesario para comenzar a escanear: plataforma AFM, electrónica, microscopio óptico, ordenador, software, puntas, herramienta para cambio de punta y muestra de referencia. Para una mayor variedad de aplicaciones, es fácil añadir accesorios y modos de medida opcionales en el momento de la compra o en cualquier momento en el futuro (MFM, EFM, SKFM, C-AFM, Fuerzas Avanzadas, etc.).

Su exclusivo soporte universal permite la libertad de comprar puntas de la más amplia variedad de proveedores para no limitar su presupuesto a compras costosas a proveedores propietarios.

Especificaciones:
- Tamaño de las muestras: 25 x 25 x 13 cm.
Escáneres disponibles: (100 x 100 x 17) micras; (50 x 50 x 17) micras; (15 x 15 x 7) micras.
- Ruido en Z: < 35 pm* (según escáner y condiciones ambientales).
Microscopio óptico con vídeo: 5MP Camera, FOV 1 X 1 mm, resolución de 2 micras.
- Modos de trabajo estándar: contacto intermitente (tapping), contacto, fase, fuerza lateral, y fuerza/distancia.
- Software: potente y completo paquete AFMControl diseñado en entorno gráfico LabVIEW. Facilita la incorporación de características especiales adicionales, así como la combinación del HR-2D AFM con otros equipos controlados también con LabVIEW.
- Formato imágenes: compatibles con múltiples softwares de tratamiento de imágenes como, por ejemplo, Gwyddion.

Opciones:
- Escáneres adicionales: es posible adquirir varios escáneres, fácilmente intercambiables por el usuario, para poder barrer diferentes áreas.
- Modos de trabajo opcionales: MFM, EFM, Fuerzas Avanzadas, C-AFM, SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscope), medidas en líquidos, STM o Litografía.
- Soluciones anti vibraciones: desde mesas hasta cabinas y cajas de guantes para amortiguar las vibraciones externas.
- Image Logger: permite visualizar las imágenes de ida y vuelta ("trace and retrace") de 6 canales simultáneamente, así como las curvas en osciloscopio y los espectros.

Aplicaciones:
- Materiales de baja dimensionalidad.
- Materiales 2 D.
- Materiales sensibles al aire.

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