Descripción

Analizador Elemental por Energía dispersiva de Fluorescencia Rayos X con "Variable Small Spot Plus Camera EDXRF" para una precisa selección del punto de análisis.

Características:
- Analiza del sodio hasta el uranio de forma no destructiva
- Potente software QuantEZ
- Cámara de alta resolución
- Tamaño del spot de análisis de 1, 3 ó 10 mm
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas
- Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental
- Detector FAST SDD para datos ultra precisos
- Seis filtros de tubo automatizados
- Relación calidad-precio inigualable
- Parámetros fundamentales RPF-SQX opcionales

El analizador elemental de fluorescencia de rayos X de sobremesa DE ENERGÍA DISPERSIVA (EDXRF) "small spot", el Rigaku NEX DE VS ofrece una completa cobertura elemental con su software QuantEZ basado en Windows® fácil de utilizar. Permite el análisis no destructivo desde el sodio (Na) hasta el uranio (U) en casi cualquier matriz, desde sólidos y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y materiales RoHS.

Con su función de Análisis elemental multipunto de pequeño o gran spot, el analizador elemental Rigaku NEX DE VS (EDXRF) permite el análisis en múltiples posiciones mediante su gran pletina de muestra de posición única, con tres opciones de tamaño de análisis: 1 mm, 3 mm y 10 mm, que son fácilmente intercambiables mediante los colimadores automáticos que integra. Una cámara de alta resolución y un sistema de iluminación LED permiten grabar la imagen de la muestra a través de la interfaz de software de Windows.

Análisis elemental XRF de campo, planta o laboratorio

Especialmente diseñado y desarrollado para uso en la industria pesada, ya sea en la planta o en entornos de producción, su potencia analítica superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE VS le permiten una mayor gama de aplicaciones que incluyen exploración, investigación, inspección RoHS a granel o educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea para control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de calidad (QA) o el control estadístico de procesos como Six Sigma, el NEX DE VS es la opción más fiable y con mayor rendimiento para el análisis elemental rutinario por XRF.

Tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD

El tubo de rayos X de 60 kV y el detector FAST SDD® refrigerado por Peltier ofrecen una repetibilidad y una reproducibilidad excepcionales a corto y largo plazo con una excelente resolución de pico para todos los elementos. Su alto voltaje (60 kV), junto con la corriente de alta emisión y múltiples filtros en el tubo de rayos X automatizados, proporcionan una amplia gama de aplicaciones XRF, gran versatilidad y bajos límites de detección (LOD).

Opciones: muestreador automático, Purga de helio y FP sin patrones

Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de intercambiadores automáticos de muestras, rotador de muestras y purga de helio para mejorar la sensibilidad de los elementos ligeros.