TT-2 AFM - Microscopio de Fuerza Atómica "Table Top" para investigación y docencia

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TT-2 AFM - Microscopio de Fuerza Atómica

Información del Producto

Ref:AFW-TT-2-AFM
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Descripción

El TT-2 AFM del fabricante de microscopios AFMWorkshop es un modelo compacto de alta resolución y segunda generación con todas las características y beneficios importantes que se esperan de un AFM a un precio competitivo. En más de 250 laboratorios del mundo, el TT-2 AFM es un Microscopio de Fuerza Atómico compacto, robusto, económico y versátil, que ofrece una adquisición de imágenes excepcional para muchas aplicaciones.

El microscopio de fuerza atómica TT-2 AFM incluye todo lo necesario para comenzar a escanear: plataforma AFM, electrónica, ordenador, software, puntas, herramienta para cambio de punta y muestra de referencia. Para una mayor variedad de aplicaciones, es fácil añadir accesorios y modos de medida opcionales en el momento de la compra o en cualquier momento en el futuro (MFM, EFM, SKFM, C-AFM, Fuerzas Avanzadas, etc.).

Su exclusivo soporte universal permite la libertad de comprar puntas de la más amplia variedad de proveedores para no limitar su presupuesto a compras costosas a proveedores propietarios.

Especificaciones:
Tamaño de las muestras: 25 x 25 x 19 cm
Escáneres disponibles: (100 x 100 x 17) micras; (50 x 50 x 17) micras; (17 x 17 x 7) micras.
Ruido en Z: < 80 pm* (según escáner y condiciones ambientales).
Microscopio Óptico con Vídeo: Zoom hasta 400X, 2 µm de resolución
Modos de trabajo estándar: contacto intermitente (tapping), contacto, fase, fuerza lateral, y fuerza/distancia.
Software: potente y completo paquete AFMControl diseñado en entorno gráfico LabVIEW. Facilita la incorporación de características especiales adicionales, así como la combinación del TT2 AFM con otro equipo controlado también con LabVIEW.
Formato imágenes: compatibles con múltiples softwares de tratamiento de imágenes como, por ejemplo, Gwyddion.

Opciones:
Escáneres adicionales: es posible adquirir varios escáneres, fácilmente intercambiables por el usuario, para poder barrer diferentes áreas.
Modos de trabajo opcionales: MFM, EFM, Fuerzas Avanzadas, C-AFM, SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscope), medidas en líquido (celda abierta y celda cerrada), ThFM, STM o Litografía.
Soluciones anti vibraciones: desde mesas hasta cabinas para amortiguar las vibraciones externas.
Image Logger: permite visualizar las imágenes de ida y vuelta ("trace and retrace") de 6 canales simultáneamente, así como las curvas en osciloscopio y los espectros.
Enfoque asistido: facilita la aproximación rápida de la punta a la muestra. Incluye sistema óptico de video, electrónica y software de control, reemplazando el soporte manual de la parte óptica del microscopio.

Solicitud de Presupuesto

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