STELLARNET THIN FILM - SISTEMA DE ANÁLISIS DE ESPESOR DE CAPAS UV-VIS-NIR


Descripción

Sistema compacto para medida de espesor e índice de refracción de capas finas con espesores comprendidos entre 5 nm y 200 µm, films monocapa y multicapa. Obtención de las constantes ópticas (n y k) por reflexión y el espesor se mide detectando el patrón sinusoidal por reflectancia especular de la muestra.
Sistema robusto, portatil con estructura metálica y reducido tamaño, formado por: 1/Espectrómetro portátil para realizar medidas de reflectancia/transmitancia en el rango UV-VIS-NIR. 2/Fuente de luz. 3/Sonda de reflectancia. 4/Software específico para adquisición e interpretación de datos, mediante amplia biblioteca incluida que permite la medición de capas en diferentes estructuras: estructuras multicapa, independientes, rugosas, gruesas y finas. Electrónica rápida integrada de adquisición de 16 bits y conexión con PC mediante USB 2.0 Incluye cable USB para conexión a PC y manual usuario.
Varios rangos de medida desde 200-1700 nm
Accesorios: fuentes de iluminación UV y Vis-NIR, fibras óptica, sonda de reflectancia
Aplicaciones: caracterización de espesor y constantes ópticas (n y k) de capas finas, colorimetría, absorbancia, transmitancia, reflectancia.

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