STELLARNET THIN FILM - Sistema de análisis de espesor de capas UV-VIS-NIR


Descripción

Sistema compacto para medida de espesor e índice de refracción de capas finas con espesores comprendidos entre 5 nm y 200 µm, films monocapa y multicapa. Obtención de las constantes ópticas (n y k) por reflexión y el espesor se mide detectando el patrón sinusoidal por reflectancia especular de la muestra.
Sistema robusto, portatil con estructura metálica y reducido tamaño, formado por: 1/Espectrómetro portátil para realizar medidas de reflectancia/transmitancia en el rango UV-VIS-NIR. 2/Fuente de luz. 3/Sonda de reflectancia. 4/Software específico para adquisición e interpretación de datos, mediante amplia biblioteca incluida que permite la medición de capas en diferentes estructuras: estructuras multicapa, independientes, rugosas, gruesas y finas. Electrónica rápida integrada de adquisición de 16 bits y conexión con PC mediante USB 2.0 Incluye cable USB para conexión a PC y manual usuario.
Varios rangos de medida desde 200-1700 nm
Accesorios: fuentes de iluminación UV y Vis-NIR, fibras óptica, sonda de reflectancia
Aplicaciones: caracterización de espesor y constantes ópticas (n y k) de capas finas, colorimetría, absorbancia, transmitancia, reflectancia.

Downloads

Solicitud de Presupuesto

Este site almacena cookies en su equipo que se utilizan para mejorar su experiencia de navegación. Para más información consulte nuestra Política de Privacidad. Saber más